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Applications

Microscopie STED

La microscopie STED (STimulated Emission Depletion ou déplétion par émission stimulée) est un type de microscopie qui permet de visualiser des échantillons à des résolutions impossibles d’atteindre par des méthodes conventionnelles. La limite de diffraction de la lumière restreint aux alentours de 200nm la résolution obtenue par microscopie confocale. Un microscope électronique permet d’obtenir une résolution jusqu’à 0.05nm, mais est très couteux et a ses propres limites.

La microscopie STED utilise un laser vert (532nm) focalisé à 200nm pour exciter la fluorescence de l’échantillon ainsi qu’un laser rouge (660nm) dont un faisceau en forme d’anneau éteint la fluorescence sauf au centre de l’anneau. En contrôlant la forme du faisceau de déplétion, la résolution peut être améliorée par rapport aux méthodes conventionnelles et permet de voir des détails en dessous de 10nm. La taille du faisceau se réduit pour une puissance croissante du laser de déplétion.

Nos lasers sont parfaitement adaptés pour cette application car ils ont un facteur de qualité de faisceau proche de l’unité, permettant une focalisation précise du faisceau pour la forme requise. Le laser Ignis est idéal comme source rouge de déplétion car sa puissance de 1W permet de créer une forme d’anneau très nette.

Lire notre article Leica STED ici.

  • ventus 532 – laser avec facteur de qualité de faisceau < 1.1, disponible à différentes puissances
  • opus 532 – laser d’excitation, jusqu’à 6W en puissance
  • gem 660 – laser de déplétion, jusqu’à 1W en puissance

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